Jerry Gao
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利用STC12C系列单片机产生PWM波形（下）
定时器功能说明 STC12C2052AD系列有6个定时器，其中T0和T1是两个16位定时器，都具有计数方式及定时方式两种工作方式。对每个定时器/计数器，在特殊功能寄存器TMOD中都有一控制位来选择T0或T1为定时器还是计数器。其核心部件是一个加法的计数器，其本质是对脉冲进行计数。计数脉冲如果…
标签：PCA，定时器，外部中断, PWM, 单片机
利用STC12C系列单片机产生PWM波形（上）
实际的测试或应用中，我们需要产生一些数字的时序信号，一般我们可以使用测试机的数字通道。如果需要的时序信号比较简单，我们也可以使用单片机来产生一些信号。在这里，简单介绍一下STC12C2052AD系列单片机，可以方便、简洁地满足我们的需求。 STC12C2052AD系列单片机是STC生产的单时钟/机器…
标签：PCA, PWM, 单片机, 定时器
EEPROM的功能测试-基于I2C总线技术
本文在分析了I2C总线的工作原理及其特点后，通过对台湾旭星公司生产的2Kbits的串行EEPROM芯片24LC02的功能部分测试实例分析，提出了I2C总线应用下的EEPROM的一般功能测试方法。 I2C(Inter－Integrated Circuit)总线是一种由PHILIPS公司开发的两线式串行…
标签：EEPROM, I2C, 测试开发
测试基础-簧片继电器使用注意事项
继电器是测试中常用的一种元器件，常用的有簧片继电器和固态继电器等。今天介绍一下簧片继电器的使用注意事项。 簧片继电器（Reed Relay）的主要元件就是舌簧触点，而舌簧继电器的性能也主要决定于舌簧触点的性能。 簧片触点结构很简单，其动作原理主要利用线圈或永久磁铁的磁场在簧片上感应出N或S极，靠这种…
标签：切换, 测试基础, 继电器
测试基础篇-电容与电感对电流测试的影响
说起测试，最基本的就是电压和电流的测试，对于比较理想的条件下，电压和电流的测试是比较容易的，借助测试V/I源，我们可以很方便的对电压和电流进行测试。 然而，在实际的测试应用中，外围条件存在很多局限性，接触电阻、寄生电容和寄生电感无处不在，这些因素都会对测试造成影响。在这里，我就举一个例子，让大家了解…
标签：测试基础, 电容, 电感, 电流测试
数据会说话-（MFGDream）Bin Analysis功能使用范例-1
经过大家的不懈努力，MFGDream中的Bin Analysis功能不断完善起来。Bin Analysis包含了丰富的内容强大的功能，可以帮助大家掌控测试全局，并迅速的定位问题所在。 以下是我随机抽取的一些数据，我们通过Bin Analysis来分析问题所在。如下面一组数据，经过处理后发现，测试良率…
MFGDream之数据分析系统Manual – Bin Analysis功能说明
4 测试数据 4.2 Bin Analysis 4.2.1 FT数据界面 确定需要分析的FT数据行，单击进到Bin Analysis界面。 FT界面包含五部分内容：基本信息、Option可选项目。和Bin Analysis页面。 4.2.1.1 基本信息 基本信息包…
MFGDream之数据分析系统Manual – 简介及功能菜单说明
1 介绍 MFGDream是一个综合性的半导体管理系统，由一群专业、开放、极具责任心的工程师团队建立并发展起来，旨在为我们国内半导体工程师乃至半导体公司量身定做的半导体管理系统，帮助公司提高工作效率与可靠性和降低运营成本。 MFGDream是基于网络技术的管理系统，不需要安装任何额外的软…
标签：Manual, MFGDream
宏邦T861开发日记-问题集锦之OV2
我的问题超多，再次感谢宏邦的朱天喜朱工和吴必勇吴总的大力支持，不厌其烦的解答了我的问题。在这里，分享给大家作参考。 问：* OV2差分电压测量功能，是否是测量不同的OV2通道之间的电压？类似DVI的差分测量功能？ 这个功能应该是只能测量，不能force差分电压，是吧？ 答：是的，只能差分测量。for…
标签：T861, 宏邦, 测试机标准测试数据格式 Standard Test Data Format (STDF)
标准测试数据格式说明文档，见附件。（如果浏览器已经安装PDF插件，可以直接打开，否则，可点击鼠标右键另存后打开） std spec
Altium Design输出Gerber文件的详细说明
该内容收集自网上，方便大家查阅。(如果浏览器已经安装PDF插件，可以直接打开，否则，可点击鼠标右键另存后打开) Altium Designer Gerber files output
宏邦T861开发日记-问题集锦之OVI/DVI/HVS
最近需要在宏邦T861上开发Probe程序，因为算是真正意义上使用该测试机，所以，请教了宏邦吴必勇部长和朱天喜朱工，非常感谢他们抽出时间来回答我的问题，在这里，我分享给大家，供大家参考。后续后新的问题，也会陆续增加进来。 ***************************************…
测试基础篇-Spike Check (降低客诉的利器)
什么叫Spike Check，就是检查输出的峰值电压（Voltage Peak Testing），以防止过压对IC造成损伤或损坏（通常称之为 EOS - electrical overstress）。 如下图1所示，就是利用示波器抓到的某个管脚的波形，我们可以看到，最大和最小的Spike分别为7.2…
数据会说话-Trimming中的数据分析
数据会说话，我们今天来谈一下Trimming中的数据分析。 不管是Final Test还是Probe Test，我们都可能需要用到Trimming，对某些重要参数进行修调，以保证这些参数的精度。 Trimming的作用，其实就是通过配置不同的fuse或bit控制位，对应相应的补偿电路，以达到修调的目…
看我哒 www.kanwoda.com 网站及账号说明
看我哒 www.kanwoda.com 是一个以交流分享根本的公益性平台，旨在为半导体工程师们提供一个交流和分享的平台。这是一个展示个人风采的大舞台，更是一个共同学习和进步的平台。 每个人都有自己的特长，每个人都有自己的得意之处，每次解决一个技术难题，都可以让我们自己窃喜不已。成功或者胜利的喜悦，是…
数据会说话-怎么看直方图
由于工作需要，我们经常会接触到大量的测试数据，怎样从海量的测试数据中，找到我们想要的信息，或是找到可能存在的问题呢？在今天的分享中，注意针对直方图和CPK，我提供几种思路供大家参考。 常规情况下，测试数据，特别是模拟量的测试数据，往往是呈现正态分布的，也基于此，常用的一些数据分析软件，往往使用数据统…
我来谈测试-关于数据分析的一些想法
感谢seaman对测试数据分析在研讨会和博客的分享，让大家对数据分析方法有了更深刻的理解。大家在研讨会上的讨论非常热烈，分享和交流，让大家都受益无穷。seaman在博客的分享，更详细和专业的分享了一些测试数据分析方法。在大家热烈讨论的同时，我也听到了一些特别的声音，让我陷入了深深思考，让我对数据分析…
我来谈测试-测试程序（模拟）篇
说起测试，很多人就会想到测试程序，甚至会认为测试开发就是测试程序开发。当然测试不仅仅是测试程序，测试是一个系统工程，涉及很多方面，包括硬件、软件、设备、电路、产品、工程、生产、数据分析、成本控制、品质管理等等诸多方面。 测试程序作为软件开发的一部分，将诸多因素包含进来，进行有效控制，针对产品性能需求…
我来谈测试-复制黏贴
曾经多次听人说起，测试，就是复制粘贴。从测试开发及调试的角度来看，这些评论的确道出了测试工程师工作内容的一部分精髓。 什么叫复制黏贴？ 说起复制黏贴，大家都会非常熟悉，最直接的大家会想到文本的复制粘贴，这会帮助大家节省很多时间，而我们在测试程序编程中，就需要用到复制黏贴。复制粘贴本身，就是为了提高效…
应用基础篇-PCB线宽和电流的关系
关于PCB线宽和电流的关系，网上有很多资料信息，在这里，我整理归纳一下，以方便大家查阅。 在了解PCB设计铜铂厚度、线宽和电流关系之前，我们先了解一下盎司、英寸和毫米之间的关系如下： 1 盎司 = 0.0014 英寸 = 0.0356 毫米 2 盎司 = 0.0028 英寸 = 0.0…
测试基础篇-开尔文测试基本原理
开尔文测试方法，是模拟电路测试常用的测试方法之一，又叫开尔文四线检测（Kelvin Four-terminal sensing），也被称之为四端子检测（4T检测， 4T sensing）。四线检测也被称为开尔文（Kelvin）四线检测，由威廉·汤姆森·开尔文勋爵（ William Thomson, …
测试基础篇-开短路测试基本原理
开短路测试，是测试工程师需要掌握的最基本的技能，通常被称为continuitytest 或者open/short test。开短路测试的原理，其实是基于产品本身管脚的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原理进行测试。 通常可以或者需要进行开短路测试的器件管脚，对地或者对电源端，或者对地和…
我来谈测试-测试数据篇
今天来说一下测试数据，不管是在半导体产品研发、验证，还是测试开发、生产中，测试数据都是贯穿其中并起到极其重要的作用。 测试数据，是产品测试中产生的数据，包括测试验证数据和测试生产数据。测试验证数据，是在产品研发过程中，对产品电性参数进行全面的验证和测试，需要涵盖甚至超过产品的极限工作…
我来谈测试-测试开发篇
经常会看到有些工程师对测试开发讳忌莫深的样子，感觉测试开发很神秘的样子。又会看到一些测试工程师自信心爆棚，甚至会很鄙视一些所谓大公司的测试工程师，效率太低，水平太臭，拿着高薪却干不了多少事。 那么，问题究竟出在哪里呢？ 曾几何时，我也是一个自认为花个半天一天，甚至几个小时就能开发出一个所谓“测试程序…
我来谈测试-封测厂篇
经常会听到有人在问：“做测试有前途吗？”、“怎么样做好测试？”、“测试到底在做什么？”。这些问题，答案很多，每个人的见解都不一样，算是仁者见仁，智者见智了。在这里，我表达一下自己的观点，希望给大家一些参考。 从整个半导体产业来看，半导体可以分为研发、生产和应用这几个阶段，在不同的阶段，测试的作用是不…
