浅谈二分法测试之二

前文分享了二分法扫描测试，得到一些朋友的反馈，交流了二分法的另外一种算法，在这里分享给大家。

下面以一个带使能端的LDO为例介绍这种算法。其典型应用电路如图1示，当EN引脚输入为高，OUT引脚输出高电平；当EN引脚输入为低，OUT截止，输出低电平。

                                                                                 图1

算法实现过程如下：

假设：待测参数VEN的上下限为1.3V～1.6V，测试精度要求为1mV，且没有迟滞效应。

步骤一：定义变量Vt，初始值为二分之一上下限，即（1.3+1.6）/2=1.45V；定义变量Step,初始值建议设定为四分之一的公差,即（1.6-1.3）/4=0.075V。

步骤二：在EN引脚加电压Vt，检测VOUT输出，若OUT引脚输出为低电平，则令 Vt（n+1）=Vt(n)+Step（n）；若OUT引脚输出为高电平，则令 Vt（n+1）=Vt(n)-Step（n）。并令Step（n+1）= Step（n）/2。

步骤三：循环执行步骤二。当Step达到精度要求时，停止循环。此时的Vt即是待测值VEN。其编程原理流程图如图2示。

                                                                               图2

测试结束后，可以通过对VEN加上或减去一个小电压，再将其加到EN引脚上，观察OUT输出是否符合预期，来达到检测测试结果是否准确的目的。

另外只要对算法稍作改进，二分法也是可以用于测试存在迟滞效应的阈值信号。具体方法是，每次在步骤二开始时，对EN进行复位，加上一个电压V0：测试VIH，则设置V0为低电平；测试VIL，则设置V0为高电平。
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