浅谈二分法测试之二

    |     2015年7月10日   |   原创分享   |     0 条评论   |    7651

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前文分享了二分法扫描测试,得到一些朋友的反馈,交流了二分法的另外一种算法,在这里分享给大家。

下面以一个带使能端的LDO为例介绍这种算法。其典型应用电路如图1示,当EN引脚输入为高,OUT引脚输出高电平;当EN引脚输入为低,OUT截止,输出低电平。

111                                                                                 图1

算法实现过程如下:

假设:待测参数VEN的上下限为1.3V~1.6V,测试精度要求为1mV,且没有迟滞效应。

步骤一:定义变量Vt,初始值为二分之一上下限,即(1.3+1.6)/2=1.45V;定义变量Step,初始值建议设定为四分之一的公差,即(1.6-1.3)/4=0.075V。

步骤二:在EN引脚加电压Vt,检测VOUT输出,若OUT引脚输出为低电平,则令 Vt(n+1)=Vt(n)+Step(n);若OUT引脚输出为高电平,则令 Vt(n+1)=Vt(n)-Step(n)。并令Step(n+1)= Step(n)/2。

步骤三:循环执行步骤二。当Step达到精度要求时,停止循环。此时的Vt即是待测值VEN。其编程原理流程图如图2示。

112                                                                               图2

测试结束后,可以通过对VEN加上或减去一个小电压,再将其加到EN引脚上,观察OUT输出是否符合预期,来达到检测测试结果是否准确的目的。

另外只要对算法稍作改进,二分法也是可以用于测试存在迟滞效应的阈值信号。具体方法是,每次在步骤二开始时,对EN进行复位,加上一个电压V0:测试VIH,则设置V0为低电平;测试VIL,则设置V0为高电平。
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